A caccia di contaminanti
Questo strumento è una trivella "nanoprobe". Ha una superficie più sensibile persino di ESCA, ma non può fare buchi. Lo strumento effettua una Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS), dando a WD la possibilità di rilevare strati molecolari singoli su una superficie. Con la ToF-SIMS, "un fascio di ioni atomici primari viene diretto sulla superficie, il che produce un insieme di ioni secondari caratteristici dei tipi di superficie".
Questo permette l'identificazione per specifica molecola di tracce contaminanti sul disco, specialmente in presenza della vulnerabile interfaccia testina / disco. Come con ESCA e TEM, i materiali da identificare devono essere in ambiente sottovuoto.
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"La trivella prende un raggio di ioni primario da un "cannone" fonte, lo spara sul sample e guarda gli ioni secondari venir via dal campione", ha spiegato WD. "Potete ricavare molti dati rapidamente da uno strumento come questo. Tutti gli strumenti analitici presentano pregi e difetti, ma unendo diversi si può ottenere una risposta precisa e soddisfacente.
L'aspetto positivo è che potete essere molto precisi nel modo d'identificare i contaminanti, persino in piccoli quantitativi, e capire quali sono le loro fonti. Questo strumento ha una sensibilità nell'ordine delle parti per miliardo, e i risultati possono essere difficili da interpretare. Bisogna saper separare i dati interessanti da quelli estranei. L'interpretazione è solitamente una delle fasi più complicate di questa tecnica".
"Se avete respirato troppo forte su un campione, potrei riuscire a dirvelo", ha dichiarato un tecnico.